XJ-4810 XJ-4810晶体管测试仪 上海晶体管测试仪 东莞晶体管测试仪

品Pai	上海	型号	XJ-4810
测量范围	测量晶体	测量精度	0.01
产品用途	晶体管测试

仪器名称：晶体管特性图示仪 型 号：XJ-4810 原 值： 外形尺寸：32×22×40cm 重量：17kg XJ-4810型半导体特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。 1.1 本仪器主要由以下几个部分组成： 1.1.1 Y轴放大器及X轴放大器。 1.1.2 阶梯信号发生器 1.1.3 集电极扫描发生器 1.1.4 主电源及高压电源部分 1.2 本仪器是继JT-1后的开发产品，它除了继承JT-1的优点外，作了较大改进与提 高，它与其他半导体管特性图示仪相比，具有以下特点： 1.2.1 本仪器采用全晶体管化电路、体积小、重量轻、携带方便。 1.2.2 1.2.2 增设集电极双向扫描电路及装置，能同时观察二极管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。 1.2.3 1.2.3 配有双簇曲线显示电路，对于中小功率晶体管各种参数的配对，尤为方便。 1.2.4 1.2.4 本仪器专为工作于小电流超b晶体管测试作了提高，Z小阶梯电流可达 0.2µA/级 1.2.5 本仪器还专为测试二极管的反向漏电流采取了适当措施，使测试的IR达20nA/div。 1.2.6 本仪器配上它的扩展装置—XJ27100场效应管配对测试台可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。 1.2.7 本仪器配上它的扩展装置—XJ27101数字集成电路电压传输特性测试台，可测试CMOS，TTL数字集成电路的电压传输特性。 XJ4810型半导体管特性图示仪，功能操作方便，它对于从事半导体管机理的研究及半导体 在无线电领域的应用，是一个必不可少的测试工具。 主要技术指标 2.1 Y轴偏转因数 集电极电流范围（Ic）10µA/div-0./div 分15档，误差不超过±3%。 二极管反向漏电流（IR）0.2µA/div-5µA/div 分5档。 2µA/div-5µA/div 误差不超过±3%。 0.2µA/div、0.5µA/div、1µA/div 误差分别不超过±20%、±10、±5% 基极电流或基极源电压 0.05V/div 误差不超过±3%。 外接输入 0.05V/div 误差不超过±3%。 偏转倍率 ×0.1 误差不超过±（10%+10nA）。