半导体管晶体管特性测试仪Ｙ轴偏转因数：
集电极电流范围（IC）0.5μA/div—1A/div 分２０档
（IR）50nA/div—1μA/div 分５档
基极电流或基极源电压（ ）0.01V/div
外接输入0.01V/div
半导体管晶体管特性测试仪Ｘ轴偏转因数：
集电极电压范围（VC）10mV/div—50V/div 分12档
(VD) 500V/div
基极电流或基极源电压（ ）0.01V/div
外接输入 0.01V/div
半导体管晶体管特性测试仪阶梯信号
阶梯电流范围：0.5μA/级--100mA/级 分17档
阶梯电压范围：0.05V/级—1V/级 分5档
串联电阻：O、10KΩ、1MΩ 分３档
每簇级数：1—10级 连续可调。
每秒级数：200
极性：正、负、异 分三档。
集电极扫描信号
峰值电压范围及电流容量：
0—10V档 (10A)
0—50V档 (1A)
0—100V档 (0.)
0—500V档 (0.1A)
0—5KV档 (5mA)
0--500VAC档 (0.1A)
功耗限制电阻： 0~500KΩ 分11档
一般性能
形式： 卧式
外形尺寸：320×210×400(mm)
重量： 约18kg
电源电压：220V±10%
频率： 50Hz±5%
视在功率：非测试状态 约50VA
大功率 约80VA
简介：
半导体管晶体管特性测试仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描功能，可以对被测半导体器件的特性进行对比分析，便于晶体管的配对。设有5kV高压装置。本仪器适用于各种半导体三极管、二极管、场效应管、可控硅、稳压二极管、及三端稳压器等器件的测试
