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IM3570阻抗分析仪 日置HOIKI阻抗分析仪IM3570

产品信息
品Pai日本日置HOIKI型号IM3570阻抗分析仪
测量范围100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)测量精度Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)
阻抗分析仪IM3570
CEGP-IB
选件
GP-IB
选件
RS-232C
选件
概要选件PDF样张
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量基本精度±0.08%的高精度测量适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)
阻抗分析仪IM3570
CEGP-IB
选件
GP-IB
选件
RS-232C
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元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)
阻抗分析仪IM3570
CEGP-IB
选件
GP-IB
选件
RS-232C
选件
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元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)
阻抗分析仪IM3570
CEGP-IB
选件
GP-IB
选件
RS-232C
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