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IM3570 日本日置(HIOKI)IM3570阻抗分析仪

产品信息
日本日置(HIOKI)IM3570阻抗分析仪IM3570阻抗分析仪:1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查,LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量,基本精度±0.08%的高精度测量,适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量,分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量日本日置(HIOKI)IM3570阻抗分析仪基本参数:

测量模式

LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量

测量参数

ZYθRs(ESR)、RpRdc(直流电阻)、XGBCsCpLsLpD(tanδ)、

测量量程

100mΩ~100MΩ12档量程(所有参数由Z确定) 

显示范围

ZYRsRpRdcXGBLsLpCsCp±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅ZY显示值
θ±(0.000°~999.999°),D±(0.000000~9.999999)
Q±(0.00~99999.99),△%±(0.0000%~999.9999%

基本精度

Z±0.08%rdg. θ±0.05°

测量频率

4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)

测量信号电平

V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms10μA rms步进(1.0001MHz以上)

输出阻抗

普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω

显示

彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF

测量时间

0.5ms(100kHzFAST,显示OFF,代表值)

测量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能

接口

EXT I/ORS-232CGP-IBUSB通讯,U盘,LAN

电源

AC90~264V50/60Hz,Z大150VA

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用94429593-019446)

接口

GP-IBRS-232CEXT.I/O(所有标准)

电源

AC90~264V50/60Hz,Z大150VA

体积和重量

330W×119H×307Dmm5.8kg

附件

电源线×1

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