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阻抗分析仪IM3570 日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪

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日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪

 

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广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪,谢    :


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1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

阻抗分析仪IM3570测量方式:压电元件的共振特性的测量

LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定,并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。

   日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪基本参数
测量模式LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
测量参数Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
测量量程100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示juedui值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
基本精度Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
测量频率4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进

 

测量信号电平V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
输出阻抗普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
显示彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
测量时间0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
测量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
接口EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
电源AC90~264V,50/60Hz,Z大150VA
打印拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
电源AC90~264V,50/60Hz,Z大150VA

 

电感(线圈、变压器)的特性检查S0023

1个画面内显示电感的L-Q、Rs有效值电阻)、DCR(直流电阻)测量。而且在1个画面内显示含铁芯的线圈等电流特性图表。

  日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪要点

· 阻抗分析仪IM3570可在4Hz~5MHz和广范围的测量频率下进行测量。
· 使用DC~5MHz和广范围的测量频率下可使用的4端子探头L2000。
· LCR模式下在1个画面中显示L-Q、Rs(有效值)测量、DCR(直流电阻)测量等Z多4个项目。根据外加电压而变化电感值的元件,以恒流测量。
· 通过分析模式的电流的扫频功能,图表显示电流特性。

使用仪器

阻抗分析仪:IM3570
4 端子探头L2000

 

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