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荧光X线膜厚计

产品信息
荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001μmZ小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例
荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统
解析度0.001μm
Z小测量面积0.1mmφ
荧光X线膜厚计可测量合金层之厚度和组成比例
荧光X线膜厚计可测量两层以上镀层之个别厚度
籍由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象：IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业
信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（东莞市艾思荔检测仪器有限公司），内容包括 （荧光X线膜厚计）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （荧光X线膜厚计）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
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