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QNix 4200|涂层测厚仪| QNix 4500|膜厚计

产品信息
QNix 4200|涂层测厚仪| QNix 4500|膜厚计
1.只需调零、无需校准
2.Fe/NFe两用探头
3.一体化设计
4.自动开关机

QNix 4200|涂层测厚仪| QNix 4500|膜厚计
1.
只需调零、无需校准
2.Fe/NFe
两用探头
3.
一体化设计
4.
自动开关机

QNix技术参数

型 号

4200

4500

1200

1500

7500

keyless

基 体

Fe

Fe/NFe

Fe

Fe/NFe

FeNFeFe/NFe

Fe/NFe

探头形式

一体

一体、分体

无线分体

显 示

LCD数字显示

测量范围

03000μm

Fe:0-3000μm

NFe02000μm

02000μm

05000μm

02000μm

05000μm

05000μm

测量精度

050μm≤±1μm501000μm≤±1.5%10002000μm≤±2%

20005000μm≤±3%

显示精度

1μm

0999μm0.1μm1000μm以上,0.01mm

工作温度

10 - +60℃

温度补偿

050℃

存 储

1500M

7500M

keylessM

 

3900个测量值,999个数据组

数据传输

RS232打印、电脑

统计功能

平均值、值、Z小值、标准偏差

超限报警

上下限

Z小基体

10mm×10mm

Z小曲率

凸、凹半径:3mm/25mm

凸半径:5mm,凹半径:25mm

Z薄基体

Fe0.2mmNFe0.05mm

电 源

5号电池2

9V碱性电池1

5号电池2

重 量

110g

130g

150g

130g

尺 寸

110×60×27mm

166×64×34mm

110×60×24mm

110×62×22mm

 

 

 


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