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薄膜测厚

产品信息
精装光纤光谱仪，以光纤连接可聚焦镜头，波长：380-1050nm，适合於薄膜测厚。
CORONA FOCUS Specification
 
Measuring system for determining the reflection on thickness （380-1050 nm）

　
Spectrometer Single beam diode array
Wavelength range 380-1050 nm （standard）
Wavelength resolution 3.3 nm/pixel
Wavelength accuracy < 0.5 nm
Number of pixels 256
ADU conversion 16 bit
Light sources Halogen lamp, 5V /9W
Lifetime of the light sources approx. 2000 h
Measuring head focusing Optics 1 :1,
Range of operating temperatures 0-40°C
Measuring rate max. 50 measurements/s with RS 422 interface
Calibration（） < 1h
Calibration period RS 422 RS 232 （option）
Interface Spectrometer-PC < 80 m （RS 422）
Distance Spectrometer-PC IP 65 EXD （option）
Casing

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