FPANF-Kelvin 单点开尔文扫描探针系统

这款单点开尔文扫描探针系统是用于室温条件和普通实验室条件下的开尔文扫描探针系统,Kelvin Probe System.它具有极为紧凑结构，可安放到各种环境箱或防尘罩中。
单点开尔文扫描探针系统的探针头与振荡薄膜一起使用，预放大器集成到探针头中，方便更换。

 

开尔文探针系统参数

• 探针与样品表面之间采用电动控制调节距离
• Z轴定位分辨率: 5 µm
• 功函分辨率: < 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals
• Z小的探针直径: 0.1 mm
• 集成法拉第防护功能
• 开尔文探针头采用纯金工艺，底板表面镀金
• 样品架磁性固定到底板上
• 样品架直径：40mm 带有 3 mm 孔用于标准SEM样品架子
• 可测样品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate)
• 振动隔离腿设计
• 包括参考样品材料: HOPG, Au on Si
• 配备汤姆森控制器和计算机
• 可选配温度和湿度传感器
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