单点开尔文探针系统

KP020单点开尔文探针（非扫描）

开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面Z顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界Z高分辨率的测试系统。

特点
● Z高的功函/表面电势分辨率：1-3meV（2mm探针）
● 与压电系统相比采用音圈驱动具有很高的驱动噪声YZ
● 过零信号检测系统极大的提高了分辨率，信噪比性能无与伦比
● 测试和扫描时探针尖与样品的高度调节功能可得到稳定的、可靠的和重复的结果
● 探针参数全部采用数字控制

系统参数
● 2mm and 50μm探针
● 功函分辨率1-3meV（2mm探针），5-10meV（50μm探针，光学防震台）
● 手动高度控制（25.4mm KP 平移）
● 跟踪系统自动控制样品和探针距离
● 过零信号检测系统YZ寄生电容
软件性能
● 数字控制所有开尔文探针参数
● 简单的信号优化设置过程
● 快速测量模式用于跟踪实时功函变化(1000points/min at ~20meV分辨率)
选件
● 样品加热器 Sample Heater
● 可升级至扫描系统
● 可升级至RHC系统
● 表面光电压模块SPV020 and SPS030
● 镀金探针