铜上镀银X射线测厚仪精度

XRF-2020金属镀层测厚仪

铜上镀银X射线测厚仪精度:正负5%

镀银厚度X-RAY膜厚仪​:检测范围0.1-50um

产地：韩国

品Pai：微先锋Ｍicro Pioneer

型号：XRF-2020

名称：X射金属镀层测厚仪

功能：检测电镀层厚度，可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等

测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯，镀铬,镀锌镍合金等

韩国XRF-2020电镀层测厚仪​精度：

层：±5%,第二层：±8%,第三层：±15%

以下为韩国XRF-2020电镀层测厚仪检测范围

Au  0.03-6um

Pd  0.03-6um

Ni  0.5-30um

Ni-P 0.5-30um

Sn 0.3-50um

Ag  0.1-50um

Cr  0.5-30um

Zn  0.5-30um

ZnNi 0.5-30um

SnCu 0.5-30um

XRF-2020镀层测厚仪共三款型号

不同型号功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

韩国XRF-2020电镀层测厚仪型号介绍

XRF-2020膜厚仪H型:测量样品高度不超过12cm

XRF-2020膜厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2020电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品

X-RAY膜厚仪韩国先锋XRF-2020测厚仪

应用领域：

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

测量的镀层范围:0.03微米～35微米。

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

铜上镀银XRF-2020测厚仪:检测范围0.1-50um