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工业CT断层扫描测量仪 蔡司zeissZG代理|三坐标测量机｜三次元｜三坐标测量仪

产品信息
工业CT断层扫描测量仪




工业CT断层扫描测量仪
 



原本不能检测或者非常耗时的和高成本的工件检测，现在可以用断层扫描分析技术快速明确地检测出误差。
 
测量技术的革命



Metrotomgraphy，融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或者根本不能进行质量保证检测的场合，现在可以进行高精度和无损测量。



断层扫描分析如同在工件内部测量：所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同测量评估、逆向工程应用或几何比较一样可行。



重要特征

深思熟虑的设计

  • 三维计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器

  • 用于装夹工件的转台和移动系统


安全技术

  • 全防护的测量间

  • 符合DIN54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h外罩)

  • 符合人体工程学的优化设计（特设的上料位置）




机器技术



蔡司转台，配有直接驱动高敏感性的探测系统
 
久经考验的线性技术

  • 蔡司的精密机械组件

  • 导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正）

  • 蔡司原装转台，配有直接驱动

  • 自产的气浮轴承

  • 分辨率：0.036˝

  • Z大负载（ZX）：500N


传感器

微聚焦X射线管

  • 高电压：10 – 225 keV

  • 电子管电流：5 – 3000 μA

  • 目标功率：Z大320 W

  • 反射角：50°锥角

  • 速流发射角：30°锥角

  • 焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器

  • 带有超高敏感性的探测系统

  • 1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三维CT

  • 低失真，数字式无线电复制


 

更多详情请看：http://www.cmm-yosoar.com/content/?165.html
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