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LCR测试仪IM3536 日置HIOKI元器件测量LCR测试仪IM3536

产品信息

日置HIOKI元器件测量LCR测试仪IM3536

DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品
日置HIOKI元器件测量LCR测试仪IM3536
  • 测量频率DC,4Hz~8MHz
  • 测量时间:Z快1ms
  • 基本精度:±0.05% rdg
  • 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
  • 可内部发生DC偏压测量
  • 从研发到生产线活跃在各种领域中

 

DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品
  • 测量频率DC,4Hz~8MHz
  • 测量时间:Z快1ms
  • 基本精度:±0.05% rdg
  • 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
  • 可内部发生DC偏压测量
  • 从研发到生产线活跃在各种领域中

 

该产品由深圳市银飞电子科技有限公司提供,销售商地址位于广东省深圳市福田区华强北路群星广场A座22楼2217。请您仔细阅读产品使用说明书,正确使用。

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