TIC 3X Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪

Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪

    三离子束切割仪几乎适用于任何材质样品，获得高质量切割截面。

    使用Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪进行离子束切割是一项适用于切割硬的，软的，多孔的，热敏感的，脆的和/或非均质多相复合型材料，获得高质量切割截面，以适宜于扫描电子显微镜（SEM）微区分析（能谱分析EDS，波谱分析WDS，俄歇分析Auger，背散射电子衍射分析EBSD）和原子力显微镜（AFM）分析。

    Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪这一技术几乎是*一个适用于任何材质样品，获得高质量切割截面的解决方法。使用该技术对样品进行处理，样品受到形变或损伤的可能性Z低，可暴露出样品内部真实的结构信息。 Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪在技术上超越了传统的离子束抛光切割设备。它使用三离子束，并可装配冷冻样品台和三样品台，可以高速率离子束轰击样品，得到宽且深的切割区域，获得一个高质量的平整的切割截面，几乎适用于任何材料，整个样品处理过程快速简便。http://www.yetech.hk/