Leica EM TIC 3X Leica EM TIC 3X三离子束切割仪

几乎任何材质样品都可获得高质量截面，在没有任何变形或损伤的情况下揭开样品内部Z真实结构信息，在使用徕卡EM TIC3X之前，这类工作从未变得如此之简单。 
徕卡EM TIC 3X三离子束切割仪适宜处理软/硬复合、带有孔缝结构、热敏感性、脆性及非均质样品，获得样品截面，从而进行扫描电子显微镜（SEM），微区分析（EDS，WDS，Auger，EBSD）及原子力显微镜或扫描探针显微镜(AFM，SPM)检测。 
三离子束（分别独立控制），冷冻样品台及多样品台，确保离子束对样品处理GX，切割区域宽且深，从而获得高质量截面切割结果。

为您带来的优势
1、*性能独特的三离子束系统，可获得Z佳的截面处理质量，并可GX获得宽且深的切割区域，大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中Z多处理3个样品。因此对有高通量需求的实验室，徕卡EM TIC 3X是Z佳解决方案。
2、样品托多种多样的样品托，适合于各类尺寸样品。
3、可装配系统根据您的样品制备需要，可以有针对性地在徕卡EM TIC 3X上装配一体化设计样品台－标准样品台，多样品台或冷冻样品台。
4、样品TOPO结构清晰可见除了剖面切割，使用同一样品托还可对样品进行清洁及增强衬度的功能。
5、冷冻样品台针对温度敏感型样品如橡胶或水溶性高分子聚合纤维等，可以使用冷冻样品台对样品进行低温下处理，获得高质量处理结果。样品托和挡板的温度都可达到-150° C。