扫描探针显微镜NanoFirst-3100
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扫描探针显微镜NanoFirst-3100技术指标:
| SPM探头 |
| 样品尺寸:直径小等于30mm;厚度小等于15mm。 |
| XYZ大扫描范围:标准6X6微米 |
| XY向分辨率:0.4nm(轻敲模式);0.3nm(AFM模式);0.1nm(STM模式) |
| Z向分辨率:0.05nm(轻敲模式);0.03nm(AFM模式);001nm(STM模式) |
| XY二维样品移动范围:5mm;精度0.5微米 |
| 步进马达自动进行针尖-样品逼近 |
| 44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配) |
| 电化学针尖块,液电池,液体轻敲式成像功能(选配) |
| 全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台(选购) |
扫描探针显微镜NanoFirst-3100特点
| 计算机全数字化控制,操作简捷直观。 |
| 步进马达自动进行针尖--样品逼近,保证实验圆满成功。 |
| 深度陡度测量,三维显示。 |
| 纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。 |
| X、Y二维样品移动平台,快速搜索样品区域. |
| 标准RS232串行接口,无需任何计算机卡 |
| 样品观测范围从0.001um-20000um。 |
| 扫描速度达40000点/秒 |
| 可选配纳米刻蚀功能模块。 |