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扫描探针显微镜NanoFirst-3100

产品信息

扫描探针显微镜NanoFirst-3100技术指标:

 
SPM探头
样品尺寸:直径小等于30mm;厚度小等于15mm。
XYZ大扫描范围:标准6X6微米
XY向分辨率:0.4nm(轻敲模式);0.3nm(AFM模式);0.1nm(STM模式)
Z向分辨率:0.05nm(轻敲模式);0.03nm(AFM模式);001nm(STM模式)
XY二维样品移动范围:5mm;精度0.5微米
步进马达自动进行针尖-样品逼近
44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配)
电化学针尖块,液电池,液体轻敲式成像功能(选配)
全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台(选购)

扫描探针显微镜NanoFirst-3100特点

计算机全数字化控制,操作简捷直观。
步进马达自动进行针尖--样品逼近,保证实验圆满成功。
深度陡度测量,三维显示。
纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。
X、Y二维样品移动平台,快速搜索样品区域.
标准RS232串行接口,无需任何计算机卡
样品观测范围从0.001um-20000um。
扫描速度达40000点/秒
可选配纳米刻蚀功能模块。
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