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3504日本日置HIOKI 3504 C测试仪

产品信息

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

 

  • Z多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (于3504)

  • 能根据C 和D （损耗系数＊2）的测量值，进行被测物合格与否的判断

  • 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。

  • 可选定测量电压

  • 触发同步测量

 

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

 

 

基本参数

 

测量参数

Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tan）

测量范围

C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000

基本确度

（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数

测量频率

120Hz, 1kHz

测量信号电平

恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:
CV1V: ～ 70 μF 量程（测量频率1kHz）
CV1V: ～ 700 μF 量程（测量频率120Hz）
CV500 mV: ～ 170 μF 量程（测量频率1kHz）
CV500 mV: ～ 1.45mF 量程（测量频率120Hz）
信号电平精度 ±10% ± 5 mV

输出电阻

5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外）

显示

发光二级管

测量时间

典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

机能

BIN 分选测量功能（于3504）, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口（标准）, GP-IBイ接口（于3504）

电源

AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, Z大110VA

体积及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

电源线× 1, 电源备用保险丝× 1

(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)

相位同期功能(特殊式样)
同时使用多台3504时,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。
信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（上海迈哲电子科技有限公司），内容包括 （3504日本日置HIOKI 3504 C测试仪）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （3504日本日置HIOKI 3504 C测试仪）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
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