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CT-1 电解式镀层测厚仪(膜厚計)

产品信息
CT-1电解式镀层测厚仪(膜厚計)

1.测量范围:0.006300 um
2
.Z消解析度:0.001 um
3
.本机精确度:±1
4.测量面积:3.42.41.7mm
5
.电解速度:12512.51.25nm/sec
6
.测量单位:umnm、二种
7.灵敏度调节:5段可调
8
.本体尺寸:200W*150H*150Dmm
9
.本体重量:1.8kg
10
.误差可校正范围:±15
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.使用电压:AC110V220V/50,60Hz

可测金属镀层:金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、 镉、锡、 铅、铜、钴、镍、铁、多重镍、黑铬
可测合金镀层:锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金

CT-1电解式镀层测厚仪(膜厚計)优点:

1、各种镀层(多层、合金)的精密测量;
2、除平板形外,还可以通过提供的图表测量圆形、棒形(细线)等各种形状
3、可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层
4
、可制作非破坏式膜厚仪的标准板;
5
、可检查非破坏式膜厚仪的测量精度;
6
、全部开关都为转盘式,简单易懂,操作及保养容易
7
、标准板校正值的计算和设定可自动进行;
8
、三档测量速度, 可以准确测量极薄镀层厚度
9
、可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金);
10
、独特的测量台(电测公司)是利用条形弹簧方式,使操作方便简单.

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