QUC-200涂层测厚仪 QUC-200数显式磁性测厚仪

QUC-200数显式磁性测厚仪，QUC-200涂层测厚仪

QUC-200数显式磁性测厚仪适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。

执行标准： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74

技术参数：
测量范围： O-200μm
测量精度：±（ 0.7μm+3%H
显示方式:数显
电源电压:220（V） 
外形尺寸:50（mm）