Enli QE-R 光谱响应测试系统 IPCE 量子效率测试
- 型号:Enli QE-R
- 产地:北京
- 供应商:杰西(北京)科技有限公司
- 供应商报价: 电议
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※以QE-R量测硅基三节电池结构的EQE | ※QE-R量测太阳能电池的差异性小 |
项目 | 规格 |
仪器大小 | 1. 600(W) x 600(D) x 610(H)mm集成系统,不含作业计算机 |
重量 | 1. 主体:80kg |
量测模式 | 1. 交流量测模式 |
量测波长 | 1. 300nm~1100nm ,可扩展到2000nm |
光班大小 | 1. 2 x 2 m2或1 x 4 m2(可客制) |
整合型光源系统 | 1. 150WXQ光源系统(或75W Xe灯光源),光源不稳定度<0.1%,可提供300nm~2000nm连续光源 2. GX率椭圆集光镜系统,具备三轴调整旋钮 3. 灯源定时器 |
单光仪 | 1. Czerny-Turner多光栅单光仪 2. 0.1nm波长解析,扫描范围 200nm~2000nm |
自动滤镜转轮 | 1. 可装载6片杂散光滤镜 2. 可手动/计算机控制,具LED显示 |
斩波器 | 1. 4Hz~500Hz,计算机频率控制 |
双锁相放大器 | 1. 两部DSP dual-phase锁相放大器整合于系统内,可同时撷取双光束测试讯号 |
校正探测器 | 1. Si侦测器,1010m2 2. 有效面积内不均匀度<0.5% 3. 侦测能力200nm~1100nm 4. 附300nm~1100nm光谱回应追溯校验报告 |
讯号切换多任务器 | 1. 4对1计算机控制讯号切换多任务器 |
计算机系统 | 1. PC,LCD,Windows操作系统(需自备计算机桌) |
软件 | 1. EQE/SR量测控制软件 2. 光强度校正 3. 多图储存与编辑 4. 能系分析功能 5. 自动切换参考侦测器与待测电池之讯号 6. 样品讯号状态显示 7. 内部量子效率计算(客户输入反射率) 8. 全光谱短路电路密度计算(自动交错算法) 9. 短路电流密度光谱 10. 光谱不含致度因子计算软件(自动交错算法) |
电力需求 | 1. 可选110V或220V AC单相,<1KVA |
操作环境 | 1. 温度:20 ℃~40 ℃,湿度:20%~80% |
光强监控模块 | 1. 300nm~1100nm,双光束量测 |
偏压电压 | 1. 0V~±5V |
项目 | 规格 |
双光源系统 | 1. Xe + QTH 双光源系统,含两组GX率椭圆集光灯系统,计算机控制电源切换 2. 700 (W) x 700 (D) x800(H) 集成外箱(选购双光源后的材积) |
偏置光源 | 1. 150 W 白光偏光光源 |
全自动多接面量测套件 | 1. 可量测: 2. aa-si; au-si double-junction; 3. aau-si; auu-si; aug-si triple-junction; 4. III-V double-junction and triple-junction; 5. OPV double-junction |
内部量子效率量测模块 | 1. 2”积分球 2. 硅侦测器,波长范围 300 nm~ 1100 nm 3. 积分球切换机构 4. 反射率 / IQE 量测软件 |
穿透率量测模块 | 1. 穿透率量测侦测器,si 300 nm ~ 1100 nm 2. 穿透率量测软件 3. 量测样品台,样品大小 max. 20 x 20 x 3mm3 (min. 10 x 10 x 1 mm3) |
长波长扩充套件 | 1. Ge 锗参考侦测器,900 nm ~ 1800 nm 含校正报告 2. InGaAs 参考侦测器,1000 nm ~ 2000 nm 含校正报告 |
UPS | 1. Online UPS > 1.5 KVA |
Mapping | 1. XY自动平台,200 nm x 200 nm行程,2.5 um resolution 2. Mapping量测软件 3. 任意波长QE扫描等功能 4. 自动光强校正 / 样品量测 / 位置调整 |
其他 | 1. 直流量测模式、客制化样品台、数字影像显微镜下针监控系统、反射率内部量子效率量测、吸收光谱量测(需选购反射率及穿透率套件)、系统使用效益统计分析、制成改进分析功能、供电系统分析、光束引致电流空间扫描3D扫描量测与分析、多点EQE自动量测 |