弱吸收测量仪

激光技术的发展要求有非常好的光学材料，而光学材料吸收的存在，是限制高能激光发展的主要因素之一，尤其对于强激光系统。如图1所示:

                                                                          图1 材料的弱吸收引起焦距变化示意图

当用强的激励光照射某一透镜时，该介质可将吸收的能量周期性地转变成热能，使材料本身及周围介质的温度升高，这将导致折射率发生变化，引起透镜的焦距改变，进而引起波形变化、退偏等现象，导致光学系统的不稳定。

我们代理的弱吸收仪采用光热偏转原理，如图2所示：                            

   图2  光热偏转法的示意图

当一束被频率调制的激光入射到样品表面后，样品表面吸收激光能量并转变为热能，在其浅表层形成稳定的周期性调制热源，热波向样品内部及空气中传播，在样品表面的空气层中就建立了周期性调制的温度梯度场。由于媒质的折射率是温度的函数，这就导致空气中产生时变频率与激光的调制频率相同的折射率梯度场。当检测激光在加热激光聚焦点处平行于样品表面掠过（距样品表面高度一般小于空气中的热波波长）时，由于此温度梯度场的存在，检测光束发生偏转，偏转的大小与样品表面的温度梯度成正比。测量时，使检测光束在加热激光聚焦点处平行于样品表面扫过，其偏转角将随热源的距离而改变。光热偏转技术是对吸收能量的直接测量，因为光热偏转在很大范围内与吸收的光功率是线性的，并且对散射光很不灵敏。

IPHT JENA弱吸收仪的优点：

无需配置斩波器、锁相放大器；

 能够实现测量 ；

 可以通过一次测量得到体吸收和面吸收，做到体、面分开；

 对泵浦激光器要求不高，可以实现多个激光波长测量 ；

 可以实现多个入射角度，有利于薄膜吸收测量。

 几个典型材料吸收系数数据：

                       KDP晶体355nm吸收系数                                   CaF2晶体193nm系数 

               LBO晶体吸收系数                                            Nd:YVO4晶体1030nm吸收系数

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