光学元件/薄膜散射测量仪

ALBATROSS-TT 是由德国Fraunhofer IOF研究所研发生产制造的，测量样品反射光，透射光，以及散射光分布的测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。

1.设备介绍：

1.1测试参数：角分辨散射（ARS）,双向反射分布（BRDF），双向透射分布（BTDF），透射（Transmittance），反射(Reflectance)及计算TIS（总散射）， 3D测量

1.2测试光源：以激光器作为测试光源，波长：532nm,405um,640nm

1.3测试样品：被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件

1.4设备特点：

入射光与探测器可共面或异面

入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整

可对样品进行扫描，可测量三维空间中的散射分布

动态范围：13个数量级

ARS灵敏度：

方便操作的测量及分析软件

1.5设备应用：

对光学器件表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析

产品质量检测

光学性能分析

粗糙度分析

1.6全封闭测量：集成在一个箱体里，可置于桌面。