蔡司分析型扫描电镜

        世界DJ光学品Pai，可见光学和电子光学的。其电子光学前身为LEO（里奥），更早叫Cambridge（剑桥）和ZEISS。1965年推出世界DY台商业化扫描电镜；1985年推出世界上DY台数字化扫描电镜。
                               
        EVO系列电镜是高性能、功能强大的高分辨应用型扫描电子显微镜。MA 15用于材料领域,LS  15用于生命科学领域。该系列电镜采用多接口的大样品室和艺术级的物镜设计，提供高低真空成像功能，可对各种材料表面作分析，并且具有业界领先的X射线分析技术。革命性的Beamsleeve的设计，确保在低电压条件下提供高分辨率的锐利图像，同时还可以进行准确的能谱分析。样品台为五轴全自动控制。标准的GX率无油涡轮分子泵能够满足快速的样品更换和无污染(免维护)成像分析。

        用途：
                                  
          扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。
                               
                                  
                             技术参数： 
                           分辨率：3.0nm@30KV(SE and W)  4.0nm@30KV(VP with BSD) 
                           加速电压：0.2—30KV 
                           放大倍数：5—1000000x 
                           探针电流：0.5PA-5μA 
                           X-射线分析工作距离：8.5mm     35度接收角 
                           压力范围：10—400Pa (LS15:10-3000Pa)
                           工作室：365mm(φ)×275mm(h) 
                           5轴优ZX自动样品台：X=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=0-90°R=360° 
                           ZD试样高度：145mm，ZD试样直径：250mm 
                           系统控制：基于Windows XP 的SmartSEM操作系统                             
                           ZD试样高度：145mm，ZD试样直径：250mm 

                              系统控制：基于Windows XP 的SmartSEM
                              主要特点：
                              能在可变压力下操作
                              先进X射线和EBSD分析
                              可移动大平台
                              快抽真空
                              未来的保证，可升级在高压和水蒸气下成像和分析
                              高亮度LaB6资源选择
                              光线套选择

                              技术优势：
                              通过网络可远程控制
                              在z轴上可机动化的移动50毫米并且在X和y轴上可移动125毫米
                              样本高度ZD增加到145毫米
                              改进了低真空图像
                              业界领先的X-射线分析技术