叶面积指数分析测定仪,冠层图像分析系统
- 品牌:上海SINTEK
- 型号:STEG-002
- 产地:国产
- 供应商:上海鑫态国际贸易有限公司
- 供应商报价:优惠021-52522103
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型号:STEG-002 优惠价:108000元 服务电话:13331858882
STEG-002植物叶面积指数测定仪是上海鑫态公司ZX推出的测量植物冠层图像参数的生理生态专业仪器。本冠层图像分析仪性能ZY、携带轻便、测量快速、操作方便,能满足您不同工作环境的多种需求。广泛应用于农艺、植物、林业等生理生态方面研究,提供了关于影响田间作物生长(小麦,水稻,冠丛及林地等)的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)和植物光合有效辐射(PAR)。
产品用途:
• 测算功能:①LAI植物叶面积指数; ②DIFN植物冠层的太阳直射光透过率;③天空散射光透过率;
④MTA叶片平均倾斜角;⑤冠层的消光;系数等
• 应用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析
• 应用于不同植物群体结构的比较
• 应用于农田作物群体生长过程进行动态监测
• 应用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学
• 应用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学
分析原理:
STEG-002植物叶面积指数测定仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,测算出植物冠层结构参数。该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。
技术指标:
• 分析范围:0~2000μmol/m2•s
• 品 Pai:SINTEK(引进美国技术)
• 镜头角度:主机STEG-002的鱼眼镜头角度为最宜适的150°(180°鱼眼镜头经常不适合
孔隙率测量原理与方法所假设的前提条件,用于冠层结构分析是不适宜和不经济的)
• 分辨率: 765×490pix
• 测量范围:天顶角范围 0°~75°(150°鱼眼镜头)可分割十个区域。
方位角 360°同样可分割成十个区域。
• 光合有效辐射PAR分析范围:400~700nm
• 内 存:128兆以上
• 电 池:利用电脑供电
• 重 量:1.5KG
• 传输接口:USB
• 工作温度:0~50℃
• 标准配置:便携式冠层图像摄相主机STEG-002(1no),光合有效辐射PAR测量杆(1no),SINTEK通讯软件,下载数据线(1no),便携背带(1no),操作说明书(1no),装箱单(1no),合格证(1no)。
• 产 地:上海