GSZ-HP-501 四探针探头厂家

产品信息

四探针探头型号：GSZ-HP-501

四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

四探针探头探头型号：GSZ-HP-501

四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特性及规格：

1	特制之手握式探笔
2	球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3	探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4	探头使用寿命长
5	探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

型号（Model）	曲率半径（Radius）	压力（loads）	探针间距（spacing）	探针排列（Arrangement）
GSZ-HP-501	0.5mm	100g	3.8mm	直线

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