SAM300E 超声显微镜 芯片失效分析的利器

类型	光学显微镜	品Pai	PVA
型号	SAM300E	仪器放大倍数	10000
目镜放大倍数	10	物镜放大倍数	1000
重量	400000（g）	适用范围	半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等;
装箱数	1

超声显微镜超声显微镜，或全称是：超声波显微镜，半导体业界通常都直接简称为C-SAM，或SAT，主要应用到半导体器件的后封装检测当中。超声显微镜 简介超声显微镜，其实它与显微镜几乎不沾边，只是这玩意早产生的国外，英文是：Scanning Acoustic Microscope，简称SAM。后来进入国内，大家也就直接翻译成超声显微镜了，或者叫声扫显微镜了。因此在很多半导体器件封装厂，大家也就直接用泊来名：C-SAM。 其主要是针对集成电路（芯片）、大功率器件，如IGBT、材料内部的失效分析。