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离线式3D锡膏厚度测试仪

产品信息

锡膏厚度测试仪的产品特点:离线式3D锡膏厚度测试仪

— 运用可编程相位调制轮廓测量技术(PSLM PMP)实现对SMT生产线中精密印刷焊锡膏进行100%的高精度三维测量。离线式3D锡膏厚度测试仪

— PSLM可编程结构光栅的应用,从此改变了传统由陶瓷压电马达(PZT)驱动摩尔纹(Moire)玻璃光栅的形式。取消了机械驱动及传动部分,大大提高了使用的便捷性,避免了机械磨损和维修成本。

— 采用技术的DL结合易于调节的全色光谱WM解决三维测量中的阴影效应干扰。

— Gerber数据转换及导入,实现全板自动检测。人工Teach功能方便使用者在无Gerber数据时的编程及检测。

— ZD可检测高度由传统的±350um增加到±1200um,不仅仅可以检测焊膏,也适用于红胶和黑胶等不透明物体的检测。

— 友好简洁的操作界面,实现五分钟编程一键式操作。

— 强大的过程统计(SPC),让使用者实时监控生产中的问题,减少由于锡膏印刷不良造成的缺陷。从而有效的提升产品质量。

 

 锡膏厚度测试仪的规格:

测量原理 3D 白光PSLM PMP( 可编程结构光栅相位调制轮廓测量技术)
测量项目 体积,面积,高度,XY偏移,形状
检测不良类型 漏印,少锡,多锡,连锡,偏位,形状不良
FOV尺寸 25 x 20 mm
精度 XY方向:10um;高度:1um
重复精度 高度:小于1um(4 Sigma);体积:小于1%(5 Sigma)
检测速度 高精度模式:小于2.5秒/FOV
Mark点检测时间 1秒/个
 ZD测量高度 ±350um( ±1200um*选件)
弯曲PCBZD测量高度 ±5mm
最小焊盘间距 100um ( 焊膏高度为150 um的焊盘为基准)
最小测量大小 长方形:150um ;圆形:200um
ZDPCB尺寸 460 x350mm
工程统计数据

 Histogram;X bar-R Chart ;X bar-S Chart ;CP & C PK ;% Gage

Repeatability Da;ta SPI Daily/Weekly/Monthly Reports

读取检测位置 支持Gerber Format( 274x,274d)格式;人工Teach模式
操作系统支持 Windows XP Professional 或Windows 7 Professional
设备尺寸 810 x 930 x 530 mm
重量125 KG

 

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