SPECTRUM II三坐标测量机

SPECTRUM II三坐标测量机“扫描”升级 效率提升,SPECTRUM让接触式扫描测量技术成为蔡司全系列测量设备的标准配置，蔡司三坐标测量真正来到了“全扫描”的时代。SPECTRUM采用的扫描技术，可以获得更全面的轮廓信息，相比单点触发测量能够获得更高的可靠性和重复性，可以控制工件质量及提高生产成本。

SPECTRUM II三坐标测量机量身定制 GX体现为满足不同客户的测量需求，新一代SPECTRUM三坐标测量机专门为用户量身定制。

可以搭配三款不同的测头：

触发式测头

直接式扫描测头及旋转测头

同时配备了蔡司独有的RDS-CAA技术，

仅需一次校准，即可使用全部5184个角度位置，大大减少了探针校准时间，满足了市场上对于GX测量的更快生产力的需求。
软硬结合 性能全面
除了高稳定性和可靠性，SPECTRUM在软件方面搭配功能强大的CALYPSO软件。图形化的测量编程平台让操作者更容易上手，并且能够大幅提高编程效率;图形化的测量报告系统能够让质量管理者更直观GX地进行产品测量结果的管控。SPECTRUM在工业领域有着广泛的应用，适合小型外壳、冲压件、数控加工零件及塑料件的检测;此外在YL和电子行业也可以满足客户的检测需求。

测量范围

500 x 500 x 600
700 x 700 x 600
700 x 1000 x 600