日置C测试仪3504-60 日置C测试仪3504-60电容测试仪

日置C测试仪3504-60电容测试仪 HIOKI/日置总代理全国优势供应

日置C测试仪3504-60适合用于封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

高速测量2ms

日置C测试仪3504-60|HIOKI日置电容测试仪3504-60

能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断

对应测试线，比较器功能/触发输出功能

3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试

3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试

查出全机测量中的接触错误，提高成品率

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

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基本参数

测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）

测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF

D:0.00001～1.99000

基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016

※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数

测量频率 120Hz, 1kHz

测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V

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测量范围:

CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)

CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)

CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)

输出电阻 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）

显示 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）

测量时间 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）

※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

功能 BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)

电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, zui大110VA

体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件 电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1

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(日置C测试仪3504-60|HIOKI日置电容测试仪3504-60主机不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)

日置HIOKI电学测试产品是本公司强项品Pai价格非常有优势欢迎询价

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