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SC-X 小麦品质分析和面粉白度麸星检测仪

产品信息
台州新恩--仪器产品厂商特价专线:


称:小麦品质分析和面粉白度麸星检测仪
号:SC-X


SC-X小麦品质分析和面粉白度麸星检测仪用途:

快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、破损率、虫蚀率等,面粉的麸星、砂石的大小和含量,以及面粉白度检测。用于实验室快速检测获得批处理数据(包括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度、籽粒颜色、霉变率、破损率、虫蚀率;面粉的麸星、砂石的大小和含量,以及面粉白度)。小麦品质检测方法符合GB5504-85《粮食、油料检验小麦加工精度检验法》,面粉白度分析指标均优于JJG512-87《白度仪国家计量鉴定规程》。


SC-X小麦品质分析和面粉白度麸星检测仪产品特点
仪器由光学成像系统、智能分析软件、300g量程1mg精度电子天平组成。系统具有的自学习能力,实现人性化的一键式智能分析,并可交互修正个别的分类错误点,以达到正确分类结果。该分析系统能大批量处理,全自动分析300个以上小麦和面粉样品的高分辨率图像。由专业软件分析成像后的彩色图像,准确、快速地测定小麦的粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度、籽粒颜色、霉变率、破损率、虫蚀率等指标,以及面粉中的麸星粒数和大小、麸星面积比和对应的砂石占比。面粉白度采用标准白自动比色法检测。软件能让用户实时看到真实样品分析过程情况;当面粉指标偏离设定参数时,可报警显示;用户可随意查询检测结果,并打印。所有测试图像分析结果和数据可在电脑上显示并保存。数据准确可靠,结果稳定、重复性高;样品可重复测试,重现性高。


SC-X
小麦品质分析和面粉白度麸星检测仪参数:
1).标准测量面积:小麦为A4纸幅面;面粉为40mm×30mm

2)
.测量时间:小麦≤1分钟/样品;面粉≤1分钟/样品

3)
.小麦测量重复性误差≤1.0%

4)
.面粉白度示值误差≤1.5,示值重复性<0.2

5)
.可接入条码枪来自动刷入样品编号,分析结果可对应样品编号输出至EXCEL表,分析图像标记结果可保存

RS232线电子天平(300g量程、1mg精度)1台,LED光源、高光学分辩率4800×9600dpi彩色扫描仪1台,智能分析软件光盘1张(含使用操作手册)、软件锁1只,籽粒收纳盘1个,以及90mm面粉成像圆盘、快速铺粒器各1付、白色标准板1块。(电脑需另配,内存≥2GB 32位的Windows 7专业版或家庭版环境)。

仪器总尺寸、总重量:宽××高约50cm×40cm×12cm,~3kg












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