镀膜光谱分析仪X3PCSR透射测量仪

名   称：大平片透射测量仪

型   号：X3PCSR

品   Pai：析谱

优惠价格：14800元/套

镀膜光谱分析仪X3PCSR透射测量仪仪器用途：

X3PCSR可广泛地用于光学、眼镜片、摄像头、触摸屏、化学、机械等科学研究领域以及光学器材制造、镀膜行业、宝石业、化学工业、冶金工业等企业事业单位进行快速检测和精确分析。潜水镜片，导航触摸屏、摄像头、隐形眼镜片，光学镀膜件通过仪器(反射软件)反射率测量/透射率测量后才能准确修正物理膜系。

X3PCSR专业的研发团队,测试数据跟岛津、日立等进口昂贵的设备相媲美。国内镀膜企业必备产品 测试数据可保存，可导出，可组合等。

镀膜光谱分析仪X3PCSR透射测量仪主要特点：

X3PCSR型可见分光光度计是一款具有多种大型高级仪器功能的智能型可见分光光度计。仪器具有自动化程度高，功能丰富，可塑性强等特点。随机标配一份具有多种应用功能的X3PCSR应用软件您就能得到适合于您个性化要求的样品分析解决方案。精心为您设计的解决方案! 还增加了,(透射测量,反射测量2套软件;2套附件(大平片测试附件、反射附件)，满足不同行业的需求.

1、宽大的样品室，可容纳5—100mm各种规格的比色皿；190*120mm大平片导航触摸屏的反射透射都可量;

2、设计独特的光学系统、高性能全息光栅和接收器确保仪器具有优良的性能指标；

3、采用单机操作，线性回归方程测量等；

4、应用新的微机处理技术使操作更为方便

5、波长，调零全自动，波长Z小间隔0.1nm

6、配2套上层软件，

A透射测量覆盖所有功能，光谱扫描、时间扫描、DNA专用测试、多波长测试、标准曲线测试等，并且使数据储存达到无限。

B反射测量，剩余反射测量装置及测量软件。

镀膜光谱分析仪X3PCSR透射测量仪详细参数:

波长范围：325-1100nm

光谱带宽：1,2,4,5nm狭缝自动可变

圆形样品Z小测试φ2反射率样品

波长准确度：±0.5nm

波长重复性：0. 2nm

光度准确度：±0.5%T

光度重复性：0.2%T

杂散光：0.1%T（360nm处）

稳定性：±0.001A/h(500nm处)

显示方式：液晶显示器

Z小分辨率0.1nm

吸光度范围：-0.3-3.0A，0-200%T

检测器： 进口硅光二极管

光源： 进口品Pai钨灯

键盘： 触摸式按键

数据输出： RS-232标准接口 /USB接口

打印输出： 并口

电源： AC 220V/50Hz 或 110V/60Hz

仪器尺寸： 470*380*200mm

机重量： 13kg

X3PCSR大平片透射测量仪仪器配置：

光谱分析家软件 透射测试 壹套；

光谱分析家软件 反射测试 壹套；

反射附件 壹套；

透射测试架壹套；

随机资料壹套；

数据线 电源线各壹套；

基准片2片 （低反+高反）

可另配转角度反射附件（测试棱镜等必备附件）

透射反射测试仪同系列技术参数：

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