新款X-Strata920镀层测厚仪

日立分析仪器产品业务发展经理Matt KREINER表示：“X-Strata920以及日立分析仪器产品系列的其他XRF仪器因其未来前景、可靠性和易用性而。SDD的加入以及多种配置选择能提高我们客户的分析能力和灵活性，以测量大量零件的复杂镀层。我们保留了高度直观的SmartLink软件，因此任何操作员（无论经验水平如何）都能够快速学会使用仪器并获得准确可靠的结果。我们的镀层产品，包括高级FT150微焦斑镀层测厚仪、手持式XRF光谱仪以及可进行快速便携式分析的CMI系列，40多年来在镀层测量领域一直深受信赖，我们很高兴能够提供这些改进成果。
Strata920无损镀层测厚仪用于电子行业：确保原件可靠性，测量焊料合金成分和镀层厚度；优化质量控制，确保产品生命期。如：分析导电性镀层金、钯厚度，测量电脑硬盘上的PIN层的厚度。五金电镀行业：快速简单的分析，同时进行单层或多层镀层厚度测量和成分分析，Z多分析4层镀层。其他行业：金属合金成分分析，进行黄金纯度分析、合金成分分析。
X-Strata920配置：
1、X-Strata920测试主机；
2、戴尔工作站台式计算机-Windows10专业版、Smart Link FP分析软件包；
3、19寸液晶显示器;
4、彩色喷墨打印机；
5、标准片组件（满足镀层需要）。
我司式位于深圳松岗的销售与维修为一体的牛津仪器代理公司，公司测厚仪各种零配件库存充足，满足所需。