BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008
- 型号：TDS10XX
- 供应商：上海屹持光电技术有限公司
- 供应商报价：电议
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产品库
THz-TDS背景知识
基于超短THz脉冲产生与探测技术发展起来的太赫兹时域光谱仪（Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS）技术，是本世纪80年代由AT&T贝尔实验室（AT&T Bell Laboratories）和IBM公司的T.J.Waston研究ZX（IBM Thomas J. Watson Research Center）提出的。BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008技术属于电磁辐射位相相干探测技术，是通过对THz脉冲不同时刻的电场强度进行位相相关的取样测量，获得THz脉冲电场的时域波形。再对THz时域波形进行傅立叶变换，获得THz脉冲电场频谱和位相信息。因此，THz-TDS可以同时直接探测被研究对象扰动的THz波电场振幅和相位双重信息。
BATOP公司介绍
BATOP成立于2003年，是一家隶属于德国耶拿大学的私人创新型公司。公司配备了来自于实验室领域的专业化技术开发和生产设计团队，使得其公司产品具有超高的品质和具有竞争力的价格。在过去几年里，BATOP一直致力于太赫兹光电导天线（PCA）和太赫兹时域光谱仪系统（THz-TDS）的研发。BATOP不仅提供单带隙天线，还包括整合了微透镜的高能大狭缝交叉天线阵列。BATOP自主研发的太赫兹时域光谱仪TDS10008性能稳定，各项参数，功能多样：可实现快速扫描、配合外置的光纤耦合天线实现角度扫描、成像等功能。 BATOP借助强大的研发能力来不断提高自己的产品， 其研发设计理念始终从客户的角度出发，Z好的满足他们的需求。
Batop太赫兹时与光谱仪THz TDS1008实测THz信号：
产品特性：
——内置样品仓，可充氮气进行透反射测量
——规格多样的外置光纤耦合天线可选
——外置角度扫描装置可选
——外置成像模块可选
——T3DS软件支持
TDS10XX各型号参数规格：
| 型号 | TDS1008 | TDS1010 | TDS1015 |
| 光谱范围 | 0.05 – 4 THz | 0.05 – 2.5 THz | 0.05 – 2 THz |
| 动态范围 | > 75 dB | > 60 dB | > 50 dB |
| 扫描范围(频谱分辨率) | 500 ps (2 GHz resolution) | ||
| 太赫兹光束直径 | 22 mm (准直) / 1-3 mm (聚焦) | ||
| 仪器尺寸(cm3) | 90×60×30 | 60×60×30 | 60×60×30 |
TDS10XX可选配件：
快速扫描模块 FSU
光纤耦合天线对 2FCA
成像模块 IU （电机行程可选375px、750px 、1125px）
角度扫描模块 T2T
透射样品架 SHT（放在样品仓内，用于透射谱测试）
反射样品架 SHR（放在样品仓内，用于反射谱测试）
光纤耦合天线样品架 SHF（可测试透射反射谱）
衰减全反射样品架 SHA（用于衰减全反射ATR测试）
2欧元成像：
BATOP太赫兹时与光谱仪THz-TDS1008安装现场
