镀层测厚仪膜厚片，X-RAY膜厚仪标准片，测厚仪校准片
- 型号：Calmetrics
- 产地：美洲
- 供应商：深圳市鼎极天电子有限公司
- 供应商报价：电议
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产品库
美国CAL标准片，CALMETRIC标准片，CMI标准片，测厚仪标准片，CAL校正片，又称标准箔，膜厚片，通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品PaiFischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，国产天瑞，纳优等)。
1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等，其它镀层可定制.
2.镀层标准片：双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.
3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4.测量厚度范围：0.01~300μm.
1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等，其它镀层可定制.
2.镀层标准片：双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.
3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4.测量厚度范围：0.01~300μm.
