它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度.
专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构.
博曼镀层膜厚测试仪规格描述：
X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统。
快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度
准直器程控交换系统：可同时装配4种规格的准直器。
的长期稳定性：自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
例行进行简单快速的波谱校准：可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正，坚固的工业设计，可在实验室或生产线上操作。
简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱，性能优化
可分析的元素范围大：预置800多种容易选择的应用参数/方法
测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用，基本分析功能采用基本参数法校正。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）
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