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激光开封机laser decap芯片开帽设备开盖测试

产品信息
激光开封机laser decap芯片开帽设备开盖测试保留芯片完整功能 失效分析设备
半导体业的铜制成芯片越来越成为发展主流,这给失效分析中器件开封带来越来越高的挑战。传统的酸开封已经没有办法完成铜制成器件的开封,良率一般低于30%。此时仪准科技推出的激光开封机,给分析产业带来了新的技术。
产片特点:
1、对铜制成器件有很好的开封效果,良率高于90%。
2、对环境及人体污染伤害交小,符合环保理念。
3、开封效率是普通酸开封机台的3~5倍。
4、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等,操作便利。
5、设备稳定,故障率远低于酸开封机台。
6、几乎没有耗材,running cost很低。
7、体积较小,容易摆放。

Applied  Package Types:
 QFP, QFN, SOT
 TO, DIP
 BGA
 COB, Assembly types
 Short Processing Time in ASIC and Power Chip
 MCM Sample Opening
 Customized Area Opening

 The Total Solution of Stacked Chip Opening.
 The Copper Wire Bonding Decapsulation.
  Adjusted Etch Rate to Control the Decapsulated Well.

 The Package 2nd Bonding Inspection with Laser Decapsulation.

 The PCB or BGA substrate Delayer Inspection.
 Failure Analysis for the Copper Crack or Electrical Probing.
 

 The Sample Preparation for Molding Compound Removal and  Cross-section.
 The Specific Shape Opening Is Available.

仪准PST2000型激光开封机特点,性价比高

整体性能可以和欧美品Pai相媲美,价格却有很大竞争优势。
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