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WLI LA 德国BMT WLI LA 白光干涉仪

产品信息


德国BMT WLI LA 白光干涉仪



WLI LA 白光干涉仪

德国BMT WLI LA 白光干涉仪比使用显微物镜的设备可测面积达得多,同时具有非常高的数值孔径。非常适于平整度测量。



特点:



•表面轮廓和平整度测量

•粗糙和光滑表面均可测量

•测量不受颜色和材料影响

•数秒内完成测量

•测量范围大

 

技术参数:

适用于较大面积平面的表面结构形状测量

测量头





•光源                                     LED

•测量范围    (μm)              100/150

•垂直分辨率(nm)              ≥1

•横向分辨率(μm)              30

•测量面积    (mm)             14×10             

•工作距离    (mm)               24

•数码相机<14位(Pixel)   1392×1040



 




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