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Talysurf CCI白光干涉表面轮廓仪

产品信息

主要特点 

•的相干相关算法 

0.01nm分辨率 

10-20秒测量时间 

RMS重复性:0.03A      

Talysurf  CCI三维非接触形貌仪采用CCI(技术的相干相关算法)干涉原理,可高精度测量表面形貌、表面粗糙度及关键尺寸,并计算关键部位的面积和体积。主要应用于数据存储器件,半导体器件,光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域。 

 

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