HORIBA光谱型椭圆偏振仪UVISEL UV-NIR

UVISEL光谱型相调制椭圆偏振仪(SPME)是一款的仪器，它采用光弹性晶体调制（PEM）偏振光，而不是传统椭偏技术中的机械偏光装置。此外，测量过程无运动部件，使得全波段内都具有高灵敏度和极好的信噪比。

与传统椭偏仪相比，UVISEL光谱型椭偏仪能够在全谱范围内测得非常准确的椭偏角(Y, D)，从而可以对透明衬底、超薄薄膜和折射率接近的样品进行高精度和高灵敏度的特性分析。

相位调制技术的原理，使得UVISEL光谱型椭偏仪能够进行先进的参数测量，包括极化度、各向异性以及Mueller矩阵元素的确定。高达1毫秒/每数据点的快速数据采集速率，使得UVISEL成为动态研究和液态表面测量的理想解决方案。

UVISEL是一台多功能的光谱型椭偏仪。它覆盖了190nm到2100nm的宽光谱范围，而且提供了一系列的自动选件和附件来增强系统的功能、满足您的实验需求。模块化的设计使得UVISEL配置灵活，可以离线、在线甚至为减小占地面积和满足超净间要求而集成到一个机柜中。

·       光谱型相调制椭圆偏振仪

·       同类产品中的精度和灵敏度

·       宽光谱范围：190到2100纳米

·       50 KHz高频PEM相位调制技术

·       具备毫秒级超快动态采集模式，可用于在线实时检测

·       自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件

·       包含成熟的光谱型椭圆偏振仪软件包

AUTO Soft                                                                           DeltaPsi    

—用户导向的全自动样品测量分析平台                  —强大的建模和拟合处理功能

- 装载样品                                                           - 对于厚透明样品基底背景光的自动修正

- 自动聚焦                                                                        - 梯度膜层

- 可直接观察样品测量及光斑                                     - 粗糙度或界面

- 开始测量                                                                        - 材料组份/结晶度

- 选择应用方案并执行                                                  - 各向异性膜层

- 可进行单点测量或多点成像                                    - 薄膜厚度的不均匀性

- 自动生成报告                                                               - 周期变化结构

- 对结果进行评价                                                          - 完备的模型库与材料n, k数据库

产品指标：

UVISEL 2科研级光谱型椭偏仪

HORIBA科学仪器事业部推出了新一代研究级光谱型椭圆偏振光谱仪，它具有的精确度、重复性、灵敏度，且具备的功能特性，是用于表征纳米和微米膜层的有力工具。UVISEL 2具有完备的全自动特性，操作简单、快速，可广泛应用于各类现有及新兴领域。

UVISEL 2配备了样品可视系统（专利技术），可用于观察任何样品表面。结合8种尺寸的微光斑，使得光斑可以精确定位于样品上各种限定尺寸的待测区域。

UVISEL 2集成了世界上Z小的无色差微光斑专利技术，光斑尺寸Z小可达到35μm，实现微区测量时仍能覆盖很大的光谱范围。

专业的DeltaPsi2软件平台，操作简单直观，为薄膜精确分析提供各种优化的测量、建模功能。

UVISEL 2是一款性能优于其它所有机型的型椭圆偏振光谱仪。它继承了经典UVISEL椭圆偏振光谱仪已被证明的精度、灵敏度性能，而且经过重新设计，性能大幅提升。