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高低温真空探针台 SCG

产品信息
  • 低温和高温真空探针台
    SEMISHARE真空环境高低温测试技术
    以下两个应用需要真空测试环境。
    极低温测试:
    因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。
    高温无氧化测试:
    当晶圆加热至300,400,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。 
    晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,SEMISHARE针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。
     
    SCG-C-4(闭循环)/SCG-O-4(开循环)特点:
    载物Chuck 温度范围:4K-500K        
    外置4个定位针臂,预留2
    探针X-Y-Z三方向移动,行程:25.4mm,定位精度:10微米
    Z多可以外置6个定位针臂
    载物chuck 可到8英
    双屏蔽chuck高低温时达到100FA 的测试精度
    针臂定位精度可以升级为0.7微米
    可以选择射频配件做67 GHz的射频测试
    可以选择防震桌
    可以选择超高真空腔体,极限真空到10-10 torr
    客户订制
     
     
    温控规格:  
    控温范围
    4K-500K
    控温精度
    0.001K
    温度稳定性
    4 K        + - 0.1 K
     
    77 K     + - 0.1 K
     
    373 K    + - 0.08 K
     
    473 K       + - 0.1 K
     
    823 K       + - 0.2 K(可选)
     
    973 K    + - 1.0K(可选)
    常温到8K冷却时间:
    1小时40分钟
    8K到常温升温时间:
    1小时30分钟
     从常温开始的升温时间          
    473K       823K        973K
     (4 chuck,单位分:秒)
    25:00      55:00        70:00
    电源
    直流
    材质
    SS304
    功率(4chuck) 
    50/100W
          
    机械规格                               
     针座行程
     X轴方向
    25.4mm(1 inch)
     
    可以选择50.8mm 
     Y轴方向
    25.4mm(1 inch)
     
    可以选择50.8mm 
     Z轴方向
    25.4mm(1 inch)
     
    可以选择50.8mm 
    移动精度
     
     X轴方向
    10 micron
     
    可以选择0.35,0.7,5,10 or 20 micron
     Y轴方向
    10 micron
     
    可以选择0.35,0.7,5,10 or 20 micron
     Z轴方向
    10 micron
     
    可以选择0.35,0.7,5,10 or 20 micron
     探针可旋转角度(应用于射频测试) 
    +-5 
     
     
     
    光学部件规格
    显微镜X-Y轴方向行程
    2"*2"
     
    可以选择4"*4"
    总共放大倍率
    240X
     
    可以选择更高倍率
    真空腔观察窗口
    4 inch
     
    外部石英材质99%红外线穿过率
     
    内部吸收红外线仅可见光通过
    光源
    150W可连续调节
    双光纤导引
     
     
    可选附件
    防震桌
    方形chuck
    分子泵组
    射频部件
    Chuck可外部移动装置
    客户定制。

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