扫描探针显微镜

    抬起模式：该工作模式分两个阶段,阶段与普通原子力显微镜形貌成像一样，在探针与样品间距1nm以内成像，然后，将探针抬起并一直保持相同距离，进行第二次扫描，该扫描过程可以对一些相对微弱但作用程较长的作用力进行检测，如磁力或静电力。
 
    磁力显微镜（Magnetic Force Microscope -- MFM）：控制磁性探针在磁性样品表面进行逐行扫描,利用抬起模式进行二次成像，获得样品纳米尺度局域上磁畴结构及分布图。
    静电力显微镜（Electrostatic Force Microscope -- EFM）：控制导电探针在样品表面进行逐行扫描，利用抬起模式二次成像，获得样品纳米尺度局域上静电场分布图。