（工业放大镜头、工业显微镜头、工业微距镜头、工业近摄镜头）
AFTvision CL带同轴光工业显微镜头采用全新超低失真、高分辨率设计，具有清晰度高，倍率固定，光学无畸变，高对比度等特点。镜头上带同轴光源接口设计，多种结构，多种开口方向，适合不同坏境下使用，能配合百万像素以上1/3，1/2，2/3工业相机使用，用于同轴照明下才能观察到的具有反射特性的显微物体，如晶片或液晶玻璃底基校正等机器视觉系统中。
镜头参数对照表
型号
|
放大倍率
×倍数
|
工作距离（mm）
|
视场H×V（mm）
|
接口
类型
|
Z大兼容CCD
|
外形尺寸
|
重量
|
1/3”CCD
|
1/2”CCD
|
AFT-CL-A
|
0.5X、0.6X、0.8X、1X、1.2X、1.5X、2X、3X、4X、5X、6X可选
|
210、200、180、150、135、100、80、70、50、45、30、25等可选
|
0.2mm-15mm
等可调，可按客
户要求选择
|
0.2mm-15mm
等可调，可按
客户要求选择
| C
| ~1/2
| φ13、φ11
| |
AFT-CL-B
| C
| ~1/2
| φ26
| |
AFT-CL-C
| C
| ~1/2
| φ17
| |
AFT-CL-D
| C
| ~1/2
| φ13
| |
AFT-CL-E
| C
| ~1/2
| φ17
| |
AFT-CL-F
| C
| ~1/2
| φ18
| |
AFT-CL-G
| C
| ~1/2
| φ13
| |
1、 可按客户要求的工作距离及视场范围设计定做镜头，周期1-2周。
2、 镜头按顺序依次是A,B…G,下边方框镜头图片是组合型，箭头方向是镜头开口方向
广泛用于反射度极高的物体定位检测，如：金属、玻璃、胶片、晶片等表面的划伤检测，芯片和硅晶片的破损检测，MARK点定位，玻璃割片机、点胶机、SMT检测、贴版机等工业精密对位、定位、零件确认、尺寸测量、工业显微等CCD视觉对位、测量装置等领域。
购买本产品和查看更详细信息请登陆：艾菲特光电技术有限公司 http://www.aftvision.com/gyjt/AFT-CL.html 产品：4000-400-860。
