广东探针台生产厂家，专业手动探针台供应商

通常需要确定以下问题来确定探针台的选型：

1、需要测几英寸的晶圆或者器件？ 

2、探针台机械精度要求多高？ 

3、点测样品的尺寸规格为多少？100um*100um或60um*60um的pad，还是FIB制作的mini pad，还是ic内部的metal？ 

4、Pad尺寸大于20um就都可以使用体式显微镜（体式显微镜倍率200倍）

5、Z多需要几根探针同时去点测？ 

6、会测试到的的电流、电压值是多少（电压越高探针的针尖就要越粗、对夹具的要求也会越高。以下推荐使用同轴夹具、以上推荐使用三轴夹具）

7、漏电精度需要达到多高？是否有射频的需求？三轴管状夹具：100FA，同轴弹簧夹具：10PA（漏电精度：Z小能测到的电流的量级）

8、是否会用到探针卡？ 

9、光学显微镜的Z小分辨率需要用到多少？ 

10、显微镜方面，是否需要添加偏光片做LC液晶热点侦测？ 

11、接驳的测试仪器接口有哪些？ 

12、测试环境时是否会需要加热或者降温？ 

13、对chuck的漏电要求怎样？是否需要添加低阻抗chuck？ 

14、是否需要防震桌？ 

15、若添置防震桌，是否有压缩空气？

手动探针台的工作原理

 手动探针台用途：

        手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。

手动探针台的使用方式：                                                          

1.将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。

2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。

3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。

4.显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场ZX。

5.待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。

6.确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。

手动探针台常见故障的排除                                                        

      当您使用本仪器时，可能会碰到一些问题，下表列举了常见的故障及解决方法。

手动探针台维护和保养                                                                      

    1. 避免碰撞：在安装，操作CS探针台时应避免碰撞，机体放置需平坦，不可倾斜或横倒，避免机器发生故障或异常异音。
 
    2.仪器的运输：仪器运输时，请先拔掉电源线插头。
                          仪器运输应使用专门的包装箱，避免碰到探针台的任何运动部件。
    3.仪器的存放
       使用完后需要注意保持清洁，尽量把灰尘吹干尽，以免灰尘将机械精密部件，光学部件，电学接触面污染，导致仪器精度降低。

      探针台机体清洁时，避免直接泼水清理，以无尘布轻轻擦拭并吹干即可。不可用硬物接触机器，以免发生故障或危险。
      探针台光学部件清洁时，可用镜头纸蘸无水酒精从中间向外轻轻的擦拭。无水酒精时易燃物，注意使用安全。
      停电或长期不用、外出旅行时，请将电源线插头拔掉以维护机器寿命。
      操作人员必须严格按要求操作，以保证数据的准确和仪器的正常使用。

     4.工作环境                                                                
     探针台应放在稳定可靠的台面上，Z好是具有防震装置的工作台上，避免在高温，潮湿激烈震动，阳光直接照射和灰尘较多的环境下使用。
    使用温度范围为5℃～40℃，湿度是40%到85%，空气中之湿度若低于30%以下，可靠湿度控制器予以控制，使维持50%～60%之范围。使用时门窗尽可能关闭，使室内达到除湿效果。
    使用电源：220±10%，50~60Hz