EM01-RD 多入射角激光椭偏仪

纳米薄膜高端研发领域专用的多入射角激光椭偏仪，用于纳米薄膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数的测量。适用于光面或绒面纳米薄膜测量、块状固体参数测量、快速变化的纳米薄膜实时测量等不同的应用场合。采用量拓科技多项技术，仪器操作具有个性化定制功能，方便使用。

• EM01-RD 多入射角激光椭偏仪可对纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k进行快速、高精度、高准确度的测量，尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发
• EM01-RD 多入射角激光椭偏仪可用于表征单层纳米薄膜、多层纳米层构膜系，以及块状材料（基底）。
• 应用领域涉及纳米薄膜的几乎所有领域，如微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、电化学、磁介质存储、聚合物及金属表面处理等。