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MicroNano系列 磁力显微镜/静电力显微镜

产品信息


    磁力显微镜（Magnetic Force Microscope -- MFM）：控制磁性探针在磁性样品表面进行逐行扫描,利用抬起模式进行二次成像，获得样品纳米尺度局域上磁畴结构及分布图。
    静电力显微镜（Electrostatic Force Microscope -- EFM）：控制导电探针在样品表面进行逐行扫描，利用抬起模式二次成像，获得样品纳米尺度局域上静电场分布图。

其他指标请参考原子力显微镜

信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（上海卓伦微纳米设备有限公司），内容包括 （MicroNano系列 磁力显微镜/静电力显微镜）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （MicroNano系列 磁力显微镜/静电力显微镜）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
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