FRANG-SR100 光学薄膜测厚仪

这款光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数，非常适合日常已知膜系膜堆测量。
这款光学薄膜测厚仪具有较长工作距离，工作距离可调，超大样品台，可选光源等特点。

光学模板测厚仪特点
易于安装
软件基于Windows系统，方便使用
先进光学设计，良好系统表现
阵列光谱探测器保证快速测量
测量薄膜厚度和折射率高达5层
可测量反射，透射和吸收光谱
可用于实时在线的薄膜厚度和折射率测量
具有齐全的材料光谱舍数据库
可升级到显微分光光度计
适合不同衬底和不同薄膜厚度测量

参数
波长范围：250-1100nm
光点大小：500um - 5mm
样品大小：200x200mm 或200mm 直径
衬底厚度： 高达50um
测量薄膜厚度范围： 2nm -50um
测量时间：Z小2ms
精度：0.5%
重复精度：<1A

应用
半导体制造
液晶显示屏测量
刑侦
生物膜测量
矿石地质分析
制药医学分析
光学镀膜测量
功能薄膜MEMS测量
太阳能电池薄膜测量