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F50 -Filmetrics光学薄膜厚度测量仪

产品信息
价格区间 面议 应用领域 YL/卫生,生物产业,电子/电气/通讯/半导体

Filmetrics膜厚测量仪—F50

自动化薄膜厚度绘图系统

-Filmetrics光学薄膜厚度测量仪:依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。

系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。

可测样品膜层

基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:

-Filmetrics光学薄膜厚度测量仪

 

 

 

 

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