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K-MAC-ST5030-SL 自动光学薄膜厚度分析系统(图)

产品信息
品Pai韩国型号K-MAC-ST5030-SL
应用领域：聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 测量范围：0.01um~ 35um 测量速度: 1~2 sec./site 特点：测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 的重复性和再现性 2D/3D 映射和造型 自动机械活动控制 电荷耦合器件照相机 自动调焦
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