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晶圆测试探针台

产品信息
特点
紧凑的结构同轴丝杠传动结构,线性移动
实惠的价格无回程差设计
兼容高倍率金相显微镜,可微调移动1微米以上电极/PAD测试
高等院校/研究所/公司实验室使用LD/LED/PD的光强/波长测试
可用于12英寸以内样品测试材料/器件的IV/CV特性测试
晶圆测试探针台
型号 SE-4 SE-6 SE-8 SE-12
外形 580mm*620mm*730mm 640mm*700mm*730mm 660mm*660mm*700mm 1030mm*820mm*730mm
重量 约70KG 约80KG 约85KG 约180KG
电力需求 220VC,50~60Hz
样品台 尺寸 4英寸,可360度旋转 6英寸,可360度旋转 8英寸,可360度旋转 12英寸,可360度旋转
X-Y行程 4英寸*4英寸 6英寸*6英寸 8英寸*8英寸 12英寸*12英寸
Z轴行程 6mm(快速切换)/6mm(微调)
移动精度 10um/1um
样品固定方式 真空吸附
背电极测试功能 有,样品台电学独立悬空
针座平台 U型平台,Z多可放置6个针座 U型平台,Z多可放置8个针座 U型平台,Z多可放置10个针座 U型平台,Z多可放置12个针座
光学特性  显微镜行程 X-Y轴行程2英寸*2英寸,Z轴:50.8mm
显微镜移动精度 1um
切换镜头方式 显微镜快速倾仰30   
放大倍数 16~100X/20~4000X
镜头规格 目镜:10X;物镜:5X,10X,20X,50X,100X(选配)
CCD像素 50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字)
点针规格 X-Y-Z行程 12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm
机械精度 10微米/2微米/0.7微米/0.1微米
漏电精度 10pA/100fA     (配置屏蔽箱时)
接口形式 香蕉头/鳄鱼夹/同轴/叁轴接口
应用方向 芯片及LD/LED/PD测试,PCB/封装器件测试,射频测试等。
可选附件  显微镜倾仰装置(倾仰30度) 高低温样品台 光强/波长测试选件
显微镜气动升降装置 屏蔽箱 射频测试附件
激光微加工 转接头 有源探头
探针卡夹具 防震台 低电流/电容测试
显微镜暗场/DIC/Normarski 检测光强/波长测试接口部件 镀金卡盘 兼容积分球测试选件
液晶漏电分析套装 同轴叁轴卡盘 光纤夹具耦合测试选件
高压/大电流测试套件 样品台快速升降,微调升降装置选件 PCB/封装夹具测试选件
加热台 样品台旋转微调选件 特殊定制
特点 1.显微镜龙门柱式设计,可使显微镜在平面内移动。
2.显微镜可倾仰或气动升降,便于更换物镜。
3.可升级做射频,大电流方面的测试和激光修复应用。
4.同轴驱动卡盘,移动精度高。

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